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天体物理学 > 天体物理学的仪器与方法

arXiv:2510.00176 (astro-ph)
[提交于 2025年9月30日 ]

标题: 西蒙斯观测站:探测器模块所有直流/射频布线晶片的表征

标题: The Simons Observatory: Characterization of All DC/RF Routing Wafers for Detector Modules

Authors:Alicia Middleton, Kyuyoung Bae, Cody J. Duell, Shannon M. Duff, Erin Healy, Zachary B. Huber, Johannes Hubmayr, Ben Keller, Lawrence T. Lin, Michael J. Link, Tammy J. Lucas, Michael D. Niemack, Eve M. Vavagiakis, Yuhan Wang
摘要: 西蒙斯天文台(SO)是一个宇宙微波背景实验,目前安装了超过67,000个对偏振敏感的过渡边缘传感器(TES)探测器,用于观测,并计划通过高级SO升级将总探测器数量增加到${\sim}$98,000个探测器。 TES阵列被封装到通用焦平面模块(UFMs)中,其中还包含多路复用读出电路。 在一个读出模块中,直流/射频布线晶片在探测器和读出多路复用芯片之间提供了一个低温接口。 每个布线晶片有十二个偏置线,这些偏置线包含${\sim}$400${\mu}{\Omega}$分流电阻器,这些电阻器是TES偏置电路的一部分。 在集成到UFMs之前,已经制造并测试了超过70个布线晶片,在室温和100 mK条件下进行了测试。 所有筛选晶片的实验室测量结果已汇总,以显示每个偏置线的平均分流电阻Rsh的分布情况,包括单个布线晶片上的偏置线以及所有布线晶片之间的分布情况。 所有晶片的平均分流电阻为396${\mu}{\Omega}$,标准差为16${\mu}{\Omega}$,即${\sim}$4%。 对于每个晶片,我们注意到偏置线之间的平均Rsh具有良好的均匀性,随着远离晶片中心的距离增加,呈现出轻微的下降趋势。 在室温下收集的制造数据与Rsh分布的低温测量结果一致。
摘要: The Simons Observatory (SO) is a cosmic microwave background experiment with over 67,000 polarization-sensitive transition-edge sensor (TES) detectors currently installed for use in observations and plans to increase the total detector count to ${\sim}$98,000 detectors with the Advanced SO upgrade. The TES arrays are packaged into Universal Focal-Plane Modules (UFMs), which also contain the multiplexing readout circuit. Within a readout module, a DC/RF routing wafer provides a cold interface between the detectors and the readout multiplexing chips. Each routing wafer hosts twelve bias lines, which contain the ${\sim}$400 ${\mu}{\Omega}$ shunt resistors that are part of the TES bias circuitry. More than 70 routing wafers have been fabricated and tested both at room temperature and 100 mK before integration into UFMs. The lab measurements for all screened wafers have been compiled to show the distribution of measured average shunt resistance Rsh for each bias line, both across bias lines on a single routing wafer and across all routing wafers. The mean average shunt resistance for all wafers was found to be 396 ${\mu}{\Omega}$ with a standard deviation of 16 ${\mu}{\Omega}$, or ${\sim}$4%. For each wafer, we note good uniformity of average Rsh between bias lines, with a slight downward trend with increasing distance from the center of the wafer. The fabrication data collected at room temperature shows agreement with the cryogenic measurements of Rsh distribution.
评论: 5页,7图。提交至LTD 2025会议论文集
主题: 天体物理学的仪器与方法 (astro-ph.IM) ; 仪器与探测器 (physics.ins-det)
引用方式: arXiv:2510.00176 [astro-ph.IM]
  (或者 arXiv:2510.00176v1 [astro-ph.IM] 对于此版本)
  https://doi.org/10.48550/arXiv.2510.00176
通过 DataCite 发表的 arXiv DOI

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来自: Alicia Middleton [查看电子邮件]
[v1] 星期二, 2025 年 9 月 30 日 18:54:06 UTC (2,668 KB)
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