物理学 > 加速器物理
[提交于 2004年5月5日
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标题: NuMI 束流在 FNAL 的剖面监视 SEM 的使用
标题: Profile Monitor SEM's for the NuMI Beam at FNAL
摘要: 位于主注入器(NuMI)的中微子项目将在每1.9秒内从FNAL主注入器中提取8.56微秒的120 GeV质子,每次提取4E13个质子。 我们设计了次级发射监测器(SEM)探测器,用于测量质子束传输线上的束流剖面和晕圈。 SEM是厚度为5微米的钛箔,以1毫米或0.5毫米的间距分段,导致束流损失约为5E-6。 我们讨论了机械设计的各个方面、预期束流加热的计算以及在FNAL的8 GeV传输线到MiniBoone的束流测试结果。
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